Zolltarifnummer HS Kapitel 90, HS Abschnitt 31

9031410000 10

- andere optische Instrumente, Apparate und Geräte

9031410000 80

- - zum Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) oder zum Prüfen von Fotomasken und Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)

9031490000 80

- - andere

9031491000 80

- - - Profilprojektoren

9031499000 80

- - - andere

9031800000 80

- andere Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen

9031802000 80

- - zum Messen oder Prüfen geometrischer Größen

9031808000 80

- - andere